OMCL-AC160TN 輕敲無鍍層探針 可視化針尖

中硬中硅探針(新概念芯片)

新的 OLYMPUS OMCL-AC 系列懸臂設計用于空氣中的 AC 模式 AFM。      

OMCL-AC 系列在懸臂的正端有一個四面體尖端。

 

 

新型四面體懸臂的突出特點

適用于各種樣品表面:

中檔機械性能 [共振頻率:150kHz,彈簧常數:9 N/m(典型值)] 意味著 OMCL-AC200TS-R3 適合從軟到硬的任何表面。
更硬的中間機械性能 [共振頻率:300 kHz,彈簧常數:26 N/m] 意味著 OMCLAC160TS-R3 經過重新設計,可精確、輕柔地顯示樣品表面。

摻雜硅懸臂:

懸臂由硅制成,具有 0.1 - 0.4 Ω·cm 的低表面電阻。
這意味著我們傳統懸臂的 1/20 阻力。

備受贊譽的“TipView”結構:

探頭可以輕松定位在您感興趣的確切位置。探頭位于懸臂的確切末端,因此在光學觀察過程中探頭頂點不會被遮擋。

針尖位于探頭最末端

探頭是四面體的,針尖在最末端。 1微米或更大的探針頂點被進一步削尖。

新概念芯片:

切屑的理想平行側壁使鑷子易于使用并消除碎屑和碎屑問題。

 

 針尖

下面是 四面體針尖正面和側面的 SEM 圖像,最后一張是側面的放大圖。

      

尖端形狀:銳化四面體(傾斜)
從正面看,它顯示出良好的對稱性,從側面看是傾斜的。
考慮到這個幾何特征,選擇快速掃描(X)方向

 

金屬涂層

 

 

 


 

Material
Probe apex Silicon (N type doped)
Lever Silicon (N type doped)
Coating Metal
Probe side Non
Reflex side Non
chip
type New Concept Silicon Chip
Length × Width × Thickness
Lchip × Wchip × Tchip
[mm] 3.4×1.6×0.3
Measurement mode
Contact mode -
AC mode
Measurement environments
In air
In water -

 

*1 Positive value of 'Probe setback' means the probe apex extends even further than the apex of the cantilever.
Negative value means that the probe apex locates over the cantilever.

*2 Effective probe length (Effective tip height) is defined as a length of distal part from the cantilever of two stage structured probe
to clarify the length of the actual probe which smoothly grow in diameter from the probe apex toward the bottom.

*3 Specifications are subject to change without any obligation on the part of the manufacturer.

 

 

 

 

 

說明 檔案大小 下載
OMCL-AC160TN-R3探針規格 123KB
OMCL-AC160TN-C3 探針規格 123KB
Olympus 原廠型錄 123KB
型號 概述 詢價數量