OMCL-AC240TN(70khz,2n/m) 輕敲無鍍層軟探針 硅探針

OMCL-AC240TS

 

OMCL-AC240TS

 

帶有“新概念芯片”的新型 OMCL-AC240 系列懸臂
專為空氣中的 AC 模式 AFM 設計,用于觀察軟樣品的形貌和粘彈性。

 

突出特點

1. 用于軟樣品測量的小彈簧常數

2. 用低電阻率硅測量表面電位

(新型硅懸臂系列的共同特點)

3. 理想的點終止探頭

4. 廣受好評的“TipView”結構

5. 反面鋁涂層

6. 易于處理芯片:“新概念芯片”

  •  

更多關于新的 OMCL-AC240 系列

1. 用于軟樣品測量的小彈簧常數

2 N/m(Typ.)的彈簧常數是我們用于交流模式的硅懸臂梁中最小的,適用于觀察軟樣品的表面形貌和粘彈性。

Mechanical Properties of OMCL-AC240TS-R3

2. 用低電阻率硅測量表面電位

懸臂基材采用 N 型摻雜硅,表面電阻為 0.01-0.02 Ω·cm(我們其他基材表面電阻的 1/200)。這可以用于測量表面電位和其他應用。

3. 針尖位于探頭的末端

四面體探頭的末端是針尖。
從正面看,四面體探針顯示出良好的對稱性??紤]幾何特征,選擇快速掃描(X)方向。檢查掃描線輪廓和尖端頂點的放大視圖。

Patterned Sapphire Substrate 9 μm x 9 μm

Patterned Sapphire Substrate 9 μm x 9 μm

Patterned Sapphire Substrate 9 µm x 9 µm
Sample, courtesy of MAXIS, Korea

4. 廣受好評的“TipView”結構

由于“TipView”結構,探頭可以輕松定位在您感興趣的確切點上。
探頭位于懸臂的確切末端,因此在光學觀察過程中探頭頂點不會被遮擋。

Front (probe apex)

Front

Side

5. 鋁涂層反射面

懸臂上涂有100nm厚的鋁薄膜,用于反射AFM設備中偏轉傳感器的光線??梢灶A期高 S/N 感測的高反射。

6. 易于處理芯片:“新概念芯片”

切屑的理想垂直側壁使鑷子易于使用并消除碎屑和碎屑問題。

design of AC240 / lever and chip

 

 

AC-240TS 應用

原位沉積
采用銀膠(EPO-TEKH20E)作為電極與探針的接觸。用能量色散X射線能譜(EDAX)測量了沉積的元素組成.在AFM下進行了納米壓痕。AFM探針為OMCL-AC240TS-R3,彈性系數為2N/m。

參考文獻https://www.nature.com/articles/s41467-020-19210-0

 

粗糙度表征

用原子力顯微鏡測量了鎢片的粗糙度。測量的均方根粗糙度為15 nm,最大粗糙度尺度為195 nm,測量值超過300 m。2。測試采用原子力顯微鏡在空氣中使用奧林巴斯硅探針(OMCL-AC240TS-R3,70 kHz,2N/m)。
參考文獻https://www.nature.com/articles/s41467-017-01010-8

 

原子力顯微鏡下的形貌和尺寸分布分析

用掃描探針顯微鏡動態分析了CA-[GLC]復合物的形貌和尺寸分布,并配備了微懸臂(OMCL-AC240TS-R3,olympus)。所有樣品經空氣干燥5 min后,在云母襯底上進行分析;
參考文獻https://www.nature.com/articles/srep07742

原子力顯微鏡FM模式
在室溫(23~25°C)下,用原子力顯微鏡(AFM),使用fm模式,因為它在水中具有很高的力敏性,并且比其他運行模式更精確地測量了inbs和其他流體結構的表面輪廓。在成像開始之前,用10-20分鐘來調整成像條件。另外,對于某些提示,在FM模式下可能無法實現穩定的工作。在PF模式下,AFM可在水沉積后5~10 min內開始,易于實現穩定的成像。采用奧林巴斯公司的Si懸臂梁(OMCL-AC240TS),彈性系數為0.7~3.8N/m,探針尖端半徑為10 nm,水中共振頻率為30 kHz。在調頻模式下,振蕩幅度保持在1.0~1.5nm,設定點為13~20 Hz。
參考文獻 https://www.nature.com/articles/srep24651

AFM對植物類囊膜的分析
A mica disc attached to a slide glass using a two-component araldite glue (Devcon Epoxy; ITW) was used as a support. The freshly cleaved mica surface was immediately covered by 40 μL of adsorption buffer (10 mM Tris, pH 7.3/HCl, 150 mM KCl, 20 mM MgCl2) as described previously55. Then, 20 μL of freshly prepared thylakoid membrane solution (0.25 μg Chl/μL) was added to the adsorption buffer on the mica surface and incubated for 10 min. The mica surface was gently rinse with 1 mL of MilliQ water and blown by nitrogen stream to remove excess water. AFM images were acquired by using a commercial MFP-3D Stand Alone AFM in tapping mode in air (Asylum Research). Silicon cantilevers with a length of 240 μm (k = 2 N/m; OMCL-AC240TS-C2, Olympus) were used. AFM data were analyzed by using the Asylum Research AFM IGOR Pro software (Wavemetrics). Averaged height was calculated from the membrane areas of at least 50 μm².
參考文獻https://www.nature.com/articles/srep02833

原子力顯微鏡在納米藥物顆粒中的應用
AFM對Polystyrene Nanoparticles Obtained 的表征

 

 

 



 

 

 

說明 檔案大小 下載
OMCL-AC240TN-R3探針規格 123KB
OMCL-AC240TN-C3探針規格 123KB
Olympus 原廠型錄 123KB
型號 概述 詢價數量